帶觀察窗三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情

本產(chǎn)品是一款精密的可靠性環(huán)境測(cè)試設(shè)備，采用獨(dú)特的三箱式（預(yù)熱區(qū)、預(yù)冷區(qū)、測(cè)試區(qū)）結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，并特別配備了高清晰度、多層防霧觀察窗。它能夠在不中斷測(cè)試過程的前提下，實(shí)現(xiàn)試樣在高溫與低溫環(huán)境之間的快速、精確轉(zhuǎn)換，是評(píng)估產(chǎn)品耐溫度沖擊性能和可靠性的關(guān)鍵儀器。

帶觀察窗三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

主要用途

用于測(cè)試電子元器件、汽車零部件、航空航天產(chǎn)品、塑膠材料、金屬材料、化工產(chǎn)品等在瞬間經(jīng)歷高溫和極低溫環(huán)境變化時(shí)的耐受能力，即“熱脹冷縮"效應(yīng)所帶來的物理損傷、電氣性能變化或失效，從而提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝缺陷。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：高溫區(qū)：+60℃ ~ +200℃；低溫區(qū)：-10℃ ~ -65℃ 或更低。

• 轉(zhuǎn)換時(shí)間：測(cè)試區(qū)在高溫與低溫之間的轉(zhuǎn)換時(shí)間通?！?0秒（試樣不移動(dòng)，氣流切換式）。

• 溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5分鐘內(nèi)恢復(fù)到設(shè)定溫度。

• 觀察窗：采用多層中空鋼化玻璃，內(nèi)置電熱防霧裝置，確保任何溫度下視野清晰。

• 內(nèi)箱尺寸：可根據(jù)需求定制，常見規(guī)格如50L、80L、150L等。

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

• 結(jié)構(gòu)：三箱獨(dú)立結(jié)構(gòu)，分為獨(dú)立的高溫蓄熱區(qū)、低溫蓄冷區(qū)和位于中間的測(cè)試區(qū)。試樣始終置于測(cè)試區(qū)，通過風(fēng)門切換將高溫或低溫氣流高速引入測(cè)試區(qū)。

• 內(nèi)箱材質(zhì)：采用SUS304#高級(jí)不銹鋼板，耐腐蝕、光潔度高。

• 外箱材質(zhì)：優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板，表面靜電噴涂處理，美觀耐用。

• 保溫層：高密度聚氨酯發(fā)泡，確保優(yōu)異的隔熱性能，節(jié)能降耗。

• 觀察窗：多層中空強(qiáng)化玻璃，帶防結(jié)霜加熱絲，門框邊緣采用耐高低溫密封條。

工作原理

設(shè)備工作時(shí)，高溫區(qū)和低溫區(qū)預(yù)先加熱或制冷至設(shè)定溫度并保持穩(wěn)定。當(dāng)測(cè)試程序開始時(shí)，測(cè)試區(qū)風(fēng)門關(guān)閉，形成一個(gè)獨(dú)立空間。當(dāng)需要高溫沖擊時(shí)，高溫區(qū)與測(cè)試區(qū)的風(fēng)門快速打開，高溫氣流在風(fēng)機(jī)驅(qū)動(dòng)下迅速充滿測(cè)試區(qū)；當(dāng)需要低溫沖擊時(shí)，該風(fēng)門關(guān)閉，低溫區(qū)與測(cè)試區(qū)的風(fēng)門打開，實(shí)現(xiàn)快速降溫。試樣全程靜止，避免了因移動(dòng)帶來的機(jī)械沖擊。

滿足標(biāo)準(zhǔn)

本設(shè)備嚴(yán)格符合或優(yōu)于以下國際、國家標(biāo)準(zhǔn)：

• GB/T 2423.22（IEC 60068-2-14）《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》

• MIL-STD-202F、MIL-STD-883K

• JESD22-A104（電子元器件）

• GJB 150.5A 等。

應(yīng)用領(lǐng)域

1. 電子電器行業(yè)：IC芯片、PCB電路板、LED、電池、通訊模塊等。

2. 汽車工業(yè)：發(fā)動(dòng)機(jī)控制器、傳感器、連接器、新能源車電池包與電控系統(tǒng)。

3. 航空航天：機(jī)載設(shè)備、衛(wèi)星組件、特殊材料。

4. 科研機(jī)構(gòu)與高校：材料學(xué)研究、新產(chǎn)品研發(fā)、可靠性物理分析。