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產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
HAST非飽和老化測試箱是一種用于評估電子元器件、半導(dǎo)體封裝及高分子材料在高溫、高濕、高壓環(huán)境下可靠性的測試設(shè)備。與傳統(tǒng)飽和型HAST不同,非飽和技術(shù)通過精確控制蒸汽壓力與溫度,避免測試過程中產(chǎn)生凝露,從而更真實地模擬實際使用環(huán)境,同時防止產(chǎn)品因水滴附著而發(fā)生短路或物理損傷。
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2026-03-19
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非飽和老化測試箱,全稱高加速非飽和蒸汽應(yīng)力試驗箱,是一種用于評估電子元器件、半導(dǎo)體封裝及高分子材料在高溫、高濕、高壓環(huán)境下可靠性的測試設(shè)備。與傳統(tǒng)飽和型HAST不同,非飽和技術(shù)通過精確控制蒸汽壓力與溫度,避免測試過程中產(chǎn)生凝露,從而更真實地模擬實際使用環(huán)境,同時防止產(chǎn)品因水滴附著而發(fā)生短路或物理損傷。
設(shè)備內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)SUS316L不銹鋼,耐腐蝕性強;門體配備防爆安全鎖與多重壓力保護系統(tǒng),確保長時間高壓測試的安全性??刂葡到y(tǒng)采用7英寸彩色觸摸屏與可編程邏輯控制器,支持多段溫濕度曲線設(shè)定及實時數(shù)據(jù)記錄。
本設(shè)備主要用于評估IC封裝、MEMS傳感器、LED、PCB板及光伏組件等在高溫高濕高壓條件下的耐候性與壽命。通過加速環(huán)境應(yīng)力,幫助制造商快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的失效模式,如分層、腐蝕、電化學(xué)遷移及密封失效等。
溫度范圍:+105℃ ~ +142.9℃
濕度范圍:75%RH ~ 98%RH(非飽和狀態(tài))
壓力范圍:0.2kg/cm2 ~ 3.0kg/cm2
溫濕度均勻度:±0.5℃ / ±3%RH
內(nèi)箱材質(zhì):SUS316L鏡面不銹鋼
控制系統(tǒng):PLC + 7英寸HMI彩色觸摸屏
安全保護:防爆泄壓閥、超溫保護、缺水報警、門鎖聯(lián)鎖
非飽和控制技術(shù):精準控制蒸汽飽和度,避免凝露對樣品的物理損傷。
偏壓測試功能:可選配偏壓測試系統(tǒng),在線監(jiān)測樣品在應(yīng)力下的電性能變化。
多段編程:支持100組程序,每組100段,滿足復(fù)雜測試需求。
數(shù)據(jù)追溯:標配USB接口與RS485通訊,支持歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)出與遠程監(jiān)控。
應(yīng)用場景
半導(dǎo)體封裝廠新品研發(fā)階段的壽命評估
PCB/PCBA行業(yè)可靠性驗證與失效分析
高校材料實驗室高分子材料吸濕與膨脹測試
第三方檢測機構(gòu)JEDEC標準符合性認證
防凝露結(jié)構(gòu)設(shè)計:獨特的蒸汽循環(huán)路徑,保證樣品表面干燥。
快速恢復(fù)系統(tǒng):開門取放樣品后,溫濕度可在5分鐘內(nèi)恢復(fù)設(shè)定值。
安全冗余設(shè)計:機械式與電子式雙重超壓保護,確保長期無人值守運行。




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