集成電路可靠性HAST高壓加速壽命試驗設備生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產研發(fā)技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優(yōu)秀產品。

產品詳情

本設備為集成電路可靠性測試專用HAST（Highly Accelerated Stress Test）高壓加速壽命試驗箱。它采用壓力、溫度與濕度綜合控制系統，能夠在高度受壓、高溫高濕的環(huán)境下對半導體器件進行加速老化測試。設備內膽采用進口耐腐蝕不銹鋼材質，結構設計符合國際安全標準，配備全自動觸摸屏控制系統，支持無人值守長期運行，是半導體封裝測試、失效分析及質量認證領域的核心設備。

集成電路可靠性HAST高壓加速壽命試驗設備

用途

主要用于評估集成電路、微電子器件、PCB板等在高溫、高濕、高壓偏壓條件下的耐濕熱特性及使用壽命。通過加速環(huán)境應力，快速暴露產品的潛在缺陷（如封裝分層、鋁腐蝕、電化學遷移等），從而在產品研發(fā)階段或出廠前進行可靠性篩選與工藝改進驗證。

技術參數

• 溫度范圍：+105℃ ~ +142.9℃（飽和模式）；+110℃ ~ +155℃（非飽和/干模式）

• 濕度范圍：75% RH ~ 100% RH（可調）

• 壓力范圍：0.2 kg/cm2 ~ 3.0 kg/cm2

• 偏壓功能：支持最多8通道在線偏壓測試（選配）

• 內箱尺寸：按容積分為35L、80L、125L、250L等多種規(guī)格

• 溫濕度均勻度：±0.5℃ / ±2.5% RH

• 控制器：7英寸彩色觸摸屏PLC可編程控制器

• 電源要求：AC 220V / 380V 50/60Hz

主要功能及特點

1. 雙模式切換：支持飽和（Saturated）與非飽和（Unsaturated）兩種測試模式，滿足不同材料與結構的測試標準（如JESD22-A110、A118）。

2. 偏壓在線測試：配備專用偏壓測試接口，可在試驗過程中對器件施加恒定或動態(tài)偏壓，實時監(jiān)控電性能變化。

3. 全自動控制：一鍵啟動后，自動執(zhí)行加水、升溫、升壓、保壓、排氣及干燥全過程，無需人工干預。

4. 多重安全防護：具備超溫保護、超壓保護、缺水保護、門鎖互鎖及緊急泄壓裝置，確保操作人員與設備安全。

5. 數據追溯：內置歷史數據存儲與導出功能，支持USB接口或以太網遠程監(jiān)控，便于生成可靠性測試報告。

技術特點

• 獨特風道設計：采用強制對流循環(huán)系統，確保腔體內溫濕度分布高度均勻，避免局部冷凝。

• 高精度傳感器：采用PT100溫度傳感器與干濕球/電子濕度傳感器，控制精度高，響應速度快。

• 耐候性結構：門板與箱體采用雙層硅膠密封條，耐高溫高壓不變形，長期使用無泄漏。

應用場景

• 半導體封測廠的質量檢測中心

• 集成電路設計公司的失效分析實驗室

• 科研院所與高校的微電子可靠性課題組

• 第三方檢測認證機構（如SGS、CTI等）

• 電子與航天元器件的篩選車間