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當前位置:首頁 > 技術文章 > 半導體芯片防水測試:淋雨試驗箱的定制化解決方案
定制化淋雨試驗箱的檢測流程也經過深度優(yōu)化。系統支持多組參數預設,檢測人員可根據芯片防水等級需求,一鍵切換 IPX1 - IPX8 不同測試模式。試驗過程中,數據采集系統以 1000 次 / 秒的頻率記錄芯片表面溫濕度、水珠分布等數據,并通過大數據分析生成可視化檢測報告,為芯片防水性能評估提供科學依據。
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